중성자 산란
중성자 빔을 시료에 투사하여 산란되는 패턴을 분석함으로써 물질의 내부 구조와 원자 배열을 파악하는 비파괴 분석 기술이다. 이 기술은 원자 수준의 미세한 변화를 감지할 수 있어 신소재 개발의 핵심적인 측정 수단으로 활용되며, AI와 결합하여 데이터 해석의 정확도를 획기적으로 높일 수 있다.